DB-FIB
Pakalpojuma ievads
Pašlaik DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) tiek plaši izmantots pētniecībā un produktu pārbaudēs tādās jomās kā:
Keramikas materiāli,Polimēri,Metāla materiāli,Bioloģiskie pētījumi,Pusvadītāji,Ģeoloģija
Pakalpojuma apjoms
Pusvadītāju materiāli, organiski mazmolekulāri materiāli, polimēru materiāli, organiski/neorganiski hibrīdmateriāli, neorganiski nemetāliski materiāli
Pakalpojuma fons
Strauji attīstoties pusvadītāju elektronikai un integrēto shēmu tehnoloģijām, pieaugošā ierīču un ķēžu struktūru sarežģītība ir paaugstinājusi prasības mikroelektronisko mikroshēmu procesa diagnostikai, atteices analīzei un mikro/nano izgatavošanai.Dual Beam FIB-SEM sistēma, ar savām jaudīgajām precīzās apstrādes un mikroskopiskās analīzes iespējām, ir kļuvis neaizstājams mikroelektronikas projektēšanā un ražošanā.
Dual Beam FIB-SEM sistēmaintegrē gan fokusēto jonu staru (FIB), gan skenējošo elektronu mikroskopu (SEM). Tas nodrošina reāllaika SEM novērošanu uz FIB balstītiem mikroapstrādes procesiem, apvienojot elektronu stara augsto telpisko izšķirtspēju ar jonu stara precīzas materiāla apstrādes iespējām.
Pakalpojuma preces
Vietne-Īpaša šķērsgriezuma sagatavošana
TEM paraugu attēlveidošana un analīze
Sizvēles kodināšana vai uzlabotā oforta pārbaude
Metal un izolācijas slāņa nogulsnēšanās pārbaude
-
Tālrunis
-
E-pasts
-
Augšā